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x射线荧光光谱仪[产品打印页面]

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产品名称: x射线荧光光谱仪
产品型号: UTX850B
产品展商: 美国优特
会员价格: 0.00 元
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简单介绍

x射线荧光光谱仪 用途:主要应用于ROHS检测、电镀镀层测厚、镀液分析、材料元素分析。 配备蕞为先进的高分辨率电致冷Si-PIN探测器,可以测试欧盟RoHS指令所要求的有害物质Pb,Cd,Hg以及总Br,总Cr的测定.光闸系统,防止X光泄漏,操作更为安全,样品台及准直器切换可软件自动控制,无需复杂的前处理过程,可以原样放入,检测准确度各精密度高.


x射线荧光光谱仪  的详细介绍
x射线荧光光谱仪 用途:
主要应用于ROHS检测、电镀镀层测厚、镀液分析、材料元素分析。
  配备蕞为先进的高分辨率电致冷Si-PIN探测器,可以测试欧盟RoHS指令所要求的有害物质Pb,Cd,Hg以及总Br,总Cr的测定.光闸系统,防止X光泄漏,操作更为安全,样品台及准直器切换可软件自动控制,无需复杂的前处理过程,可以原样放入,检测准确度各精密度高.同时还配备镀层测试软件,可进行一些镀层厚度的测试,一机多用,特别适合PCB线路板和电子行业中的应用.
产品简介:
UTX850B X荧光光谱仪性能特点

  ·可同时检测RoHS、镀层测厚、镀液分析和元素分析

  ·XYZ三维移动样品台,镭射对焦,操作简单

  ·多种准直器和滤光机制可供选择

  ·光闸系统,防止X光泄漏,操作更安全

  ·人性化软件界面设计,易学易懂,更方便人员操作

  ·探测器采用先进的电制冷方式,无需液氮制冷,增加安全性

  ·无需复杂的前处理过程,可以原样放入,检测准确度和精密度高,检测限达到1PPM

 元素含量
 分析指标
 分析范围:1PPM-99.99%  准确度:相对误差5%以内
 精密度:相对标准差5%以内 检出限:1PPM  
镀层厚度
检测指标
 
 准确度:相对误差第一层5%,第二层10%以内
 精密度:相对标准差5%以内   检出限:0.01μm 
 X光管 50W(4-50KV  0 -1.0mA)标配 测试软件 基本参数法
 探测器 硅锂半导体探测器 定性功能 自动标示存在元素
 滤光器 一次滤光 定量功能 出厂前完成标定曲线,客户直接测试,无需标样
 准直器 多准直器可选,自动切换 报告结果 自动生成
 样品观察 CCD高精度彩色摄像头 数据处理 MS-Word
 对焦系统 镭射对焦 软件 RoHS检测软件,镀层测厚元素分析软件
 测量方向 从上向下 重量 100kg
 可测元素 K到U 稳压系统 UPS稳压电源
 测试时间 镀层测厚:10-100秒
 元素分析:60-300秒
 电脑 联想电脑
 样品台 XYZ三维移动样品台,操作杆、软件双重控制 打印机 彩色喷墨打印机
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