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x荧光测厚仪[产品打印页面]

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产品名称: x荧光测厚仪
产品型号: UTX650
产品展商: 美国优特
会员价格: 0.00 元
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简单介绍

x荧光测厚仪 可为电镀客户提供更佳的X荧光测量方案,X射线从上向下照射样品,不同大小形状的样品更方便放置及测量。


x荧光测厚仪  的详细介绍

x荧光测厚仪 可为电镀客户提供更佳的X荧光测量方案,X射线从上向下照射样品,不同大小形状的样品更方便放置及测量。
x荧光测厚仪的手动操作系统为用户提供方便可靠的镀层测厚、镀液分析、简单元素分析或贵金属分析方案。标准配置为20倍彩色CCD系统用于样品图象观察;简易手动样品台,Z轴升降调节,操作简单;单准直器及多准直器可选,激光对焦及定位系统,二次滤光片多种可选方式及封气式正比计数器。
        优特完善的X荧光分析软件基于基本参数法(FP法)或校正曲线法,确保了完美的测量结果。仪器易于操作,软件界面更具人性化。

 元素含量
 分析指标
 分析范围:100PPM-99.99%  准确度:相对误差5%以内
 精密度:相对标准差5%以内     检出限:100PPM 
 测试时间 镀层测厚:10-100秒
元素分析:60-300秒
 
 X光管  50W(4-50KV  0 -1.0mA)标配 样品台 简易手动样品台,Z轴升降调节,操作简单
 探测器 正比计数器 测试软件 基本参数法
 滤光器 二次滤光 重量  100千克
 准直器 Standard configuration: 1 collimator (Ф3mm / Ф1mm /
Ф0.5mm / Ф0.2mm /Ф0.1mm); Multi- collimators  Options
 软件 镀层测厚软件,元素分析软件
 样品观察 CCD高精度彩色摄像头 配套 标准液体测量杯
 对焦系统 镭射对焦 稳压系统 UPS稳压电源
 测量方向 从上向下 电脑 联想电脑
 可测元素 K到U 打印机 彩色喷墨打印机

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