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产品名称:
X荧光光谱仪
产品型号:
UTX850B
产品展商:
上海荣珂检测仪器有限公司
产品文档:
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会员价格:
0.00 元
简单介绍
X荧光光谱仪 RoHS&测厚 用途：主要应用于ROHS检测、电镀镀层测厚、镀液分析、材料元素分析。 配备最为先进的高分辨率电致冷Si-PIN探测器，可以测试欧盟RoHS指令所要求的有害物质Pb,Cd,Hg以及总Br,总Cr的测定.光闸系统,防止X光泄漏,操作更为安全,样品台及准直器切换可软件自动控制,无需复杂的前处理过程,可以原样放入,检测准确度各精密度高.
X荧光光谱仪 的详细介绍
X荧光光谱仪 RoHS&测厚 产品简介:
UTX850B X荧光光谱仪性能特点
·X荧光光谱仪可同时检测RoHS、镀层测厚、镀液分析和元素分析
·XYZ三维移动样品台，镭射对焦，操作简单
·多种准直器和滤光机制可供选择
·光闸系统，防止X光泄漏，操作更安全
·人性化软件界面设计，易学易懂，更方便人员操作
·探测器采用先进的电制冷方式，无需液氮制冷，增加安全性
·无需复杂的前处理过程，可以原样放入，检测准确度和精密度高，检测限达到1PPM
元素含量
分析指标 | 分析范围：1PPM-99.99% 准确度：相对误差5%以内
精密度：相对标准差5%以内 检出限：1PPM | 镀层厚度
检测指标 | 准确度：相对误差第一层5%，第二层10%以内
精密度：相对标准差5%以内 检出限：0.01μm |
| X光管 | 50W(4-50KV 0 -1.0mA)标配 | 测试软件 | 基本参数法 |
| 探测器 | 硅锂半导体探测器 | 定性功能 | 自动标示存在元素 |
| 滤光器 | 一次滤光 | 定量功能 | 出厂前完成标定曲线，客户直接测试，无需标样 |
| 准直器 | 多准直器可选，自动切换 | 报告结果 | 自动生成 |
| 样品观察 | CCD高精度彩色摄像头 | 数据处理 | MS-Word |
| 对焦系统 | 镭射对焦 | 软件 | RoHS检测软件，镀层测厚元素分析软件 |
| 测量方向 | 从上向下 | 重量 | 100kg |
| 可测元素 | K到U | 稳压系统 | UPS稳压电源 |
| 测试时间 | 镀层测厚：10-100秒
元素分析：60-300秒 | 电脑 | 联想电脑 |
| 样品台 | XYZ三维移动样品台，操作杆、软件双重控制 | 打印机 | 彩色喷墨打印机 |
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