x荧光测厚仪[产品打印页面]

x荧光测厚仪 可为电镀客户提供更佳的X荧光测量方案，X射线从上向下照射样品，不同大小形状的样品更方便放置及测量。
x荧光测厚仪的手动操作系统为用户提供方便可靠的镀层测厚、镀液分析、简单元素分析或贵金属分析方案。标准配置为20倍彩色CCD系统用于样品图象观察；简易手动样品台，Z轴升降调节，操作简单；单准直器及多准直器可选，激光对焦及定位系统，二次滤光片多种可选方式及封气式正比计数器。
        优特完善的X荧光分析软件基于基本参数法（FP法）或校正曲线法，确保了完美的测量结果。仪器易于操作，软件界面更具人性化。